仪器参数：

分辨率：二次电子成像：

高真空模式：1.0nm @ 30kV，3.0nm @ 1kV

低真空模式：1.4nm @ 30kV，3.0nm @ 3kV

环境真空模式：1.4nm @ 30kV

背散射电子：2.5nm @ 30kV

加速电压：200V-30kV，连续调节

样品台：X=Y=100mm，Z=60mm

T=-5° to +70°，R=360°

主要应用：

FEI Quanta 450 FEG场发射扫描电镜结合场发射电镜的高分辨率和环境扫描电镜适合样品多样性的优势，可工作于高真空、低真空和环境真空等各种模式下，主要用于样品表面精细形貌和结构的观察和分析，图像具有高分辨率和高放大倍数，富于立体感，可真实、生动地显示样品的三维结构，广泛地应用于化学、材料学、生命科学、医学等诸多领域。